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夏比投影儀XT50

產(chǎn)品型號： XT-50

所屬分類：激光測距儀

產(chǎn)品時間：2016-09-23

簡要描述：隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗方法》該標(biāo)準(zhǔn)對試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響Z終的試驗結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格，那么其試驗結(jié)果是不可信的，特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結(jié)果的巨大陡跳

詳情介紹

夏比投影儀

一、概述

隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗方法》該標(biāo)準(zhǔn)對試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響zui終的試驗結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格，那么其試驗結(jié)果是不可信的，特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結(jié)果的巨大陡跳，尤其是在試驗的臨界值時，會引起產(chǎn)品的合格或報廢兩種截然相反的不同結(jié)局。為保證試樣缺口的合格，其質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段，目前，用光學(xué)投影放大檢驗是*切實可行的方法。

XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和GB/T299-1994《金屬夏比沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種于檢驗夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比，以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點是操作簡便，對比直觀。

二、工作原理：
根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上，再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方位*。

本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。

三、主要參數(shù)：

投影屏直徑：	180mm
工作臺尺寸：
方工作臺尺寸：	110×125mm
圓工作臺直徑：	90mm
工作臺玻璃直徑：	70mm
工作臺行程：
縱向：	±10mm
橫向：	±10mm
升降：	±12mm（無刻度）
工作臺轉(zhuǎn)動范圍：	0-360°（無刻度）
放大倍數(shù)：
儀器放大倍率：	50X
物鏡放大倍率：	2.5X
投影物鏡放大倍率：	20X
光源（鹵鎢燈）：	12V 100W
外形尺寸：	515×224×603mm（長×寬×高）
重量：	約18Kg

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